测量原理：通过分析材料上下表面反射光行成的干涉光谱，对膜材料厚度进行测量。

技术指标：

应用领域（场景）：光学薄膜、半导体膜层、涂布膜层的厚度检测

技术亮点： 高速在线膜厚分析，只需几毫秒即可获得测量结果，拥有极高的分析准确度，并且可同时分析计算多层膜厚。