产业链
快速求购

您当前的位置：

HORIBA 科学仪器事业部>HORIBA真空紫外光谱仪PGS/PGM 200

HORIBA 科学仪器事业部

白金会员第4年
所在地区：北京
认证信息：商安信认证
HORIBA真空紫外光谱仪PGS/PGM 200
光谱检测分析仪-HORIBA真空紫外光谱仪PGS/PGM 200
价  格面议
  • 品牌
    HORIBA
    型号
    PGS/PGM 200
  • 产地
    上海
    关注度
    597
  • 信息完整度
    测量范围
    4-16.5nm (75-310eV) 或 4-26nm (47-310eV)
  • 仪器原理
    其他
    分辨率
    0.5nm
索取资料及报价
产品简介

产品简介

PGS/PGM 200光谱仪凭借优异的消像差设计，可实现一机两用，配合单通道探测器作为单色仪，配合CCD使用作为摄谱仪。光路由一片平面光栅和一片超环面镜组成，为紫外光谱分析优化设计。掠入射光路设计将可探测波长拓展到4nm，与此同时，摄谱仪模式下焦平面垂直于出射光轴，使CCD上接受的光通量大化。
 
技术特点
    HJY的消像差平面光栅结合超环面镜，同时兼顾高分辨率和低像差。
    在轴设计，光路易准直。
    出射光直射CCD表面，光通量大。
    只需更换出射狭缝和法兰，即可实现单色仪和摄谱仪之间的切换，一机两用。
    支持超高真空10-9mbar，可接入同步辐射装置。

典型应用
    X射线光电子能谱
    等离子体物理研究
    高次谐波滤波
    紫外反射
    EUV光源表征

技术指标

三块标准光栅可选

54401010

1800 gr/mm 光栅，摄谱仪模式下

光谱范围：4-16.5nm (75-310eV) 或 4-26nm (47-310eV)

出射端口色散：0.4-0.68nm/mm

分辨率：0.2nm

54402010

800 gr/mm光栅，摄谱仪模式下

光谱范围：10-35 nm (35–124eV) 或10-56nm (22-124eV)

出射端口色散：1.0 – 1.14m/mm

分辨率：0.3nm

54406010

450 gr/mm光栅，摄谱仪模式下

光谱范围：16-65 nm (7–80eV) 或

16-103nm (12-77eV)

出射端口色散：1.7–2.7m/mm

分辨率：0.5nm

光学设计

HJY平面光栅加超环面镜光路设计

焦长

200 mm

孔径

f/17

分辨率

低至0.2nm

波长驱动

步进电机

高真空

10-6 mbar

真空泵法兰

DN63 LF

狭缝

测微狭缝

阵列探测器法兰

DN100CF/ICF152

可选项

狭缝

自动或固定

超高真空

10-9 mbar，配备DN100CF真空泵法兰和DN40CF真空计接口