精微高博比表面积仪

JW-BK400系列

四站比表面及孔径分析仪

比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK400系列高通量全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，该产品配置4个独立并列分析站，测试效率超高，可有效解决纳米粉体材料的比表面介孔大孔高通量分析问题，满足中大型企业多样品、高效率测试需求。